型號：ME55

分析天平

描述：

METTLER梅特勒分析天平ME55具有瑞士品質的NewClassic ME半微量天平，設計堅固、簡單可靠，操作高效的性能賦予天平非同凡響的價值，在有限預算內成為您的理想選擇。

廠商性質
生產(chǎn)廠家
更新時間
2025-05-07
訪問量
221

詳細介紹

品牌	Mettler Toledo/梅特勒托利多	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
儀器量程	20-100g	儀器精度	萬分之一克
價格區(qū)間	1萬-3萬	儀器種類	分析天平
應用領域	化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥/生物制藥,綜合

METTLER梅特勒分析天平ME55

具有瑞士品質的NewClassic ME半微量天平，設計堅固、簡單可靠，操作高效的性能賦予天平非同凡響的價值，在有限預算內成為您的理想選擇。人體工程學設計，前置水平調節(jié)系統(tǒng)，使天平在使用時，始終確保在您的視角下保持水平狀態(tài)，讓您的日常稱量變得輕松高效，人性化的設計讓您的各種稱量應用功能唾手可得，直觀的按鍵和明亮的背亮液晶顯示屏，使天平操作也極其簡單。NewClassic ME半微量天平，日復一日為您的稱量工作提供準確可靠的保證。

設計堅固

METTLER梅特勒分析天平ME55

ME天平采用堅固的金屬機架，使機身加固并實現(xiàn)過載保護，日復一日為天平提供保護，確保您始終如一地獲取準確的結果

快速可靠

*美的稱量技術確保快速與準確的稱量結果，為您實現(xiàn)高效的日常操作。

操作高效

易于使用的界面可直接進入各種應用程序和日常校準。圓弧邊緣和光滑表面確保清潔輕松簡單，輔以清潔方便的特點，您的日常任務將變得快捷而高效。

合規(guī)性文檔記錄

具有日期與時間標識(ISO/GLP)和自動內部校準技術，可以提供合規(guī)性文檔記錄，讓您的日常數(shù)據(jù)管理更高效。

ME半微量電子天平

型號概觀

型號	ME55	ME155DU
最大量程	52 g	42 g /152 g
最小可讀性	0.01 mg	0.01 mg /0.1 mg
重復性(極限值)	0.03 mg	0.03 mg /0.1 mg
重復性(典型值)	0.02 mg	0.02 mg /0.1 mg
線性(極限值)	0.1 mg	0.15 mg /0.2 mg
線性(典型值)	0.05 mg	0.05 mg /0.2 mg
穩(wěn)定時間	8 s	8 s /4 s
秤盤直徑	?80 mm	?80 mm

產(chǎn)品特性：

● 采用全新電子線路、配備高速CPU及專用芯片，快速獲得準確稱量結果。

● 多級數(shù)字濾波和補償技術，優(yōu)化天平在不同稱量條件下的稱量性能。

● 動態(tài)溫度補償，實時修正環(huán)境溫度波動對稱量結果的影響。

● 綠色環(huán)保設計，選用環(huán)境友好的安全材料，耗電量最大降低50%，待機能耗1W。

● 標配五面玻璃防風罩及防靜電底板設計，有效避免靜電對稱量結果的影響。

● 清晰明亮的超大數(shù)字背光顯示屏，讓您在所有工作環(huán)境中都能輕松讀取。

● 前置水平調節(jié)腳和水平指示器，方便觀察和調節(jié)水平，時刻確保水平狀態(tài)。

● 超大去皮鍵設計，便于用戶的稱量操作。

● SmartTrac動態(tài)圖形顯示，直接顯示天平已使用的稱量范圍。

● 1/10d可讀性縮位功能，快速獲得穩(wěn)定稱量結果。

● 按鍵觸發(fā)的自動內部或外部砝碼校準，確保始終獲得準確稱量結果。

● 天平機架標配塑料保護罩，避免散落樣品的腐蝕和對天平表面的損傷

● 客戶微調功能(ADJ.CF)，使您能夠用自己的校正砝碼調整內置校正砝碼值。

● 下稱鉤設計，滿足客戶特殊應用需求。

● SmartKey功能鍵可直接進入稱量應用程序列表，方便用戶進行應用程序的調用。

● 豐富的內置應用程序：配方稱量、求和稱量、動態(tài)稱量、計件稱量、密度測定、

百分比稱量、檢重稱量、統(tǒng)計稱量、自由因子稱量。

● 稱量值檢索功能，自動存儲最近一次的稱量結果，方便查看。

● PC-Direct功能可將稱量結果直接傳輸至Excel等開放式應用程序，傳輸過程自動開

始無需其它輔助軟件。

● 內置RS232通訊接口，方便連接打印機和電腦等外圍設備。

選件

LabX direct balance

實現(xiàn)天平到電腦的簡單數(shù)據(jù)傳輸

RS-P28打印機

具有統(tǒng)計、累加、日期時間功能，獲得

稱量數(shù)據(jù)、自適配通訊參數(shù)的打印機。

砝碼

用于校驗和校準的砝碼，確保可追溯。

ME半微量電子天平

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METTLER梅特勒分析天平ME55具有瑞士品質的NewClassic ME半微量天平，設計堅固、簡單可靠，操作高效的性能賦予天平非同凡響的價值，在有限預算內成為您的理想選擇。

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